ESD的威脅機理
ESD可以在電荷累積和放電兩個不同的階段形成威脅。ESD可能會產(chǎn)生很嚴重的危害（
ESD測試儀模擬測試），比如說產(chǎn)生不可逆轉的性能下降或損壞，也可能只是引起比較輕微的ESD感應錯誤，可以通過重新設置或重新啟動系統(tǒng)進行修正（邏輯錯誤、數(shù)據(jù)丟失、程序運行發(fā)生變化等等），通常認為這種危害與能量或電壓有關。主要的耦合機理是直接傳導，通過第二級電弧傳導、電容耦合以及電感耦合（磁場）。
一、由預放電電場引起的威脅
預放電的靜電場可以通過比特反轉、電荷的泄放以及絕緣介質(zhì)的擊穿等方式來影響固態(tài)電子電路。靜電場還能吸引粉塵，這是制造過程中要特別注意的問題。
二、由放電電流引起的威脅
1、直接傳導；
放電電流可以通過多種方式來損壞受擾設備，主要是對薄介質(zhì)層的絕緣擊穿以及由電流產(chǎn)生的熱效應損壞。場效應器件特別敏感，如CMOS、ROM以及偶極器件。現(xiàn)在，大多數(shù)集成電路設計都具有ESD保護電路，用以對過高的電壓進行鉗位。保護輸入的失效電壓（也就是會導致?lián)p壞的電壓）通常與由ESD產(chǎn)生的電流脈沖的上升時間密切相關，上升時間越快則對應的可能失效的電平就越低。因此，保護電路的反應速度是非常重要的。
2、二級放電
如果線路是浮地的或者沒有共用一個地，則線路很容易受到二級電弧放電的影響。例如對一個機殼放電時，如果在地通道上有一個足夠大的電感，則在機殼上會產(chǎn)生一個對地很高的電壓，機殼內(nèi)一塊使用外部地的電路板將承受一個相對于機殼的很大的電位差。如果機殼和板間的距離很小，就會出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象，形成二級電弧放電。
三、由輻射場引起的威脅
由ESD引起的輻射場可以直接損壞敏感電路，或者通過在輸入-輸出電纜、開孔、縫、通風孔上產(chǎn)生激勵而損壞電路。它還能產(chǎn)生一些有害的效應，如對示波器的誤觸發(fā)等等。ESD產(chǎn)生的頻譜超過1GHZ，因此在保護設計中，最好的方法是確保受擾的設備只能作為一個效率很低的接收天線。從互易原理看，一個設計很好的設備同樣也應該只能作為一個很差的發(fā)射天線。電場主要是在高阻抗天線和電壓探測電路上耦合，如線性元件和信號線上。磁場則易被低阻抗天線和電路環(huán)耦合。而且磁場更容易穿透屏蔽殼體。對于電路設計人員來說，磁場耦合是一個很難解決的問題，因為很難識別電路板上非人為的換天線，
四、由引燃氣體顆粒產(chǎn)生的威脅
值得重視的一點就是ESD不僅僅對電器產(chǎn)生危害，它還可以點燃氣體或者顆粒材料，產(chǎn)生爆炸。因此，在危險的環(huán)境中，比如軍事裝配場所、石油供應商和用戶、采礦工業(yè)等，是需要嚴格控制ESD的。
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