此次分享的是關(guān)于IEC 61000-4-2:2025 標(biāo)準(zhǔn)主要差異及變更目的；相關(guān)內(nèi)容的要求、方法的詳細(xì)介紹。
標(biāo)準(zhǔn)版本號變更
2025版對放電發(fā)生器的要求
1.靜電放電模擬器原理保持一致
2.電流波形測量點數(shù)增加Ip2(10ns~40ns之間最大峰值)
靜電槍校準(zhǔn)
1.6.3章節(jié)正文中增加了靜電槍校準(zhǔn)的布置描述。2008版相關(guān)內(nèi)容描述在附錄D.4中。
2.靜電槍下面增加了1.2*1.5m的接地參考面板，同時增加了電流靶到接地參考面之間的高度要求（1m）。
3.ISO 10605-2023版的校準(zhǔn)布置不一樣。
4.ISO 10605-2023版保留原來的校準(zhǔn)布置，修改了發(fā)生器主機的放置位置。
5.增加空氣放電模式的校準(zhǔn)要求及方法
空氣放電校準(zhǔn)：如果接觸放電和空氣放電模式切換，只是更換前端放電金屬導(dǎo)體（沒有附加的有源或無源 電子元件），校準(zhǔn)可僅測量空氣放電時的最大開路電壓。否則在接觸放電模式安裝空氣放電頭進行測量。
靜電槍輸出電壓范圍
1. 高壓電源輸出電壓范圍跨度大，輸出最小電壓＜100V，輸出最大電壓＞30KV。
2. 同時兼顧高低電壓的電壓精度±5%。
3.增加了高壓電源的成本。對于使用者，也是增加了設(shè)備投入成本。
試驗布置
1.明確要求靜電放電發(fā)生器的任何外部電源都應(yīng)放置在 RGP 上。
2.放電回流電纜與試驗配置中的其他導(dǎo)電部件之間的距離不得小于 0.1 米（由0.2m變更為）。
3.與 RGP 的連接以及所有搭接的阻抗應(yīng)較低（新增 例如 ≤0.1 歐姆），例如通過使用機械夾緊 裝置來實現(xiàn)。
4.增加泄放電阻器誤差范圍（ 470±10 ）KΩ要求及電阻器位置要求（距離電纜兩端各不超過 10 cm）。
注 2：除非產(chǎn)品委員會另有決定，否則對于安裝在天花板上的設(shè)備，一般不進行靜電放電（ESD）測試，因為此類設(shè)備在安裝后用戶不 會接觸。
-與受試設(shè)備（EUT）相關(guān)的任何安裝支腳都應(yīng)保持原位。
-任何輔助設(shè)備（AE）可以放置在任何位置（例如測試環(huán)境之外、接地參考面（RGP）、水平耦合板（HCP））。
-受試設(shè)備與輔助設(shè) 備之間的互連電纜可以斷開連接，這既可以保護輔助設(shè)備免受放電影響，也可以是因為受試設(shè)備的規(guī)格要求斷開連接。
桌上型試驗布置
新增1：放電電阻電纜的最大長度 應(yīng)為 1.5 米。
新增2：被測設(shè)備及其電纜與HCP之間應(yīng)采用厚度為（0.5 ± 0.05）mm的絕緣材料隔開。
新增3：VCP邊長為（0.5 ± 0.005）m的方形,）放置在非導(dǎo)電支 撐物上;并且與受試設(shè)備（EUT）的側(cè)面保持（0.1 ± 0.01）m的距離。VCP泄放電阻電纜組件的最大長度應(yīng)為 3 米，且不得捆扎。
落地式設(shè)備
新增1：VCP間接放電時，VCP邊長為（0.5 ± 0.005）m的方形電壓放電板，且該板距離被測設(shè)備（EUT）的側(cè)面應(yīng)為（0.1 ± 0.01）m。VCP通過放電電 纜與電阻接地平面（RGP）相連。VCP 放電電纜最大長度3 米，且不得捆扎。。
不接地設(shè)備
增加 注 1：對于存在用戶可觸及的金屬浮片的產(chǎn)品，接觸放電至該浮片可能會導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部發(fā)生二次放電，從而造成故障。根據(jù)浮出的 裸露金屬與內(nèi)部接地結(jié)構(gòu)之間的間隙大小，有時在較低的電壓水平下，二次放電可能會更靠近敏感電子元件，或者比在較高電壓水 平下更明顯。在依靠諸如導(dǎo)電膠等薄絕緣層作為接地路徑的情況下，也是如此。在較高電壓水平下，靜電放電可能會通過薄膠層產(chǎn) 生電弧，而在較低電壓水平下，電火花可能會被迫走不同的路徑，從而導(dǎo)致故障。對于諸如手持設(shè)備之類的產(chǎn)品，產(chǎn)品委員會可以 規(guī)定在較低的測試電壓水平下也進行接觸放電測試。
試驗布置應(yīng)與7.3.3、7.3.4 中規(guī)定相同；如適用可與附錄I特定類型設(shè)備試驗布置中規(guī)定的布置相同。
安裝后試驗布置
增加：注 1：安裝后的測試通常僅適用于非常大的設(shè)備（例如固定裝置、大型機械），這些設(shè)備無法運送到實驗室。
修改為：受試設(shè)備的部分部件安裝在金屬 支撐結(jié)構(gòu)上，金屬結(jié)構(gòu)應(yīng)連接到參考接地平面。
附錄 A （資料性） 解釋性說明
A.1一般的考慮
A.2 環(huán)境條件對充電量的影響
A.3人體帶電產(chǎn)生的靜電放電現(xiàn)象
A.4 空氣放電現(xiàn)象
A.5 空氣放電的變化
A.6 空氣放電的溫度和濕度
A.7 接觸放電試驗的基本原理
A.8 試驗級別選擇
A.9 靜電放電發(fā)生器元件的選擇
A.10 發(fā)生器規(guī)格的基本原理
附錄F（資料性）測量不確定度（MU）的考慮
2025版重新考慮測量不確定度的計算方法
附錄 G （資料性） 安裝后試驗的布置
2025版將正文中“安裝后試驗的布置”由正文單獨增加一個附錄G進行描述。
附錄 H （規(guī)范性） 升級策略【新增】
主要解決試驗結(jié)果出現(xiàn)差異，增加操作說明。
由于靜電放電（ESD）的復(fù)雜性以及測試設(shè)備固有的偏差，被測設(shè)備（EUT）在施加放電時的性能可能會出現(xiàn)一些變化。通常，這些變化是由于錯誤的測試水平不同或被測設(shè)備在測試過程中表現(xiàn)出的錯誤類型不同所致。根據(jù)這些變化出現(xiàn)的測試水平，其性能的變化可能會影響被測設(shè)備是否通過測試的判定。
如果被測設(shè)備（EUT）的性能存在差異，則應(yīng)采取以下步驟來確定差異的來源。
a)核實測試設(shè)置；檢查所有細(xì)節(jié)，包括每根電纜的位置以及受試設(shè)備（例如，蓋子、門）的 狀態(tài)。
b) 核實測試程序，包括設(shè)備待測單元（EUT）的操作模式、輔助設(shè)備的位置和布置、操作人 員的位置、軟件狀態(tài)以及對 EUT 施加放電的情況。
C)驗證測試結(jié)果的差異是否由使用不同的發(fā)生器所導(dǎo)致。對于與安全相關(guān)的功能，產(chǎn)品委員會可以決定不采用升級策略。可以采用更嚴(yán)格的升級策略。
升級策略如果在所有測試條件（包括靜電放電發(fā)生器）相同的情況下，被測設(shè)備（EUT）的性能出現(xiàn) 差異，則應(yīng)采用以下升級策略來確定 EUT 是否符合要求。此策略應(yīng)適用于在施加一組放電時， EUT 性能超出規(guī)定要求的每個測試點。
已按照 8.3.2 條款并以規(guī)定的測試等級進行了首次測試。如果在測試過程中，被測設(shè)備 （EUT）的性能超出規(guī)定要求的情況出現(xiàn)不止一次，那么測試結(jié)果即超出產(chǎn)品委員會設(shè) 定的可接受性能閾值。如果在初始放電測試集中，EUT 性能超出規(guī)定要求的情況僅出現(xiàn) 一次，則按照以下步驟2) 進行進一步測試。
第2次測試應(yīng)在該測試點進行，放電次數(shù)為規(guī)定測試要求的兩倍。如果在測試過程中，被 測設(shè)備（EUT）的性能超出規(guī)定要求的情況出現(xiàn)不止一次，測試結(jié)果超出產(chǎn)品委員會 設(shè)定的可接受性能閾值。如果在初始放電過程中，被測設(shè)備（EUT）的性能超出規(guī)定要 求的情況僅出現(xiàn)一次，則應(yīng)按照以下步驟 3）進行進一步測試。
第三次測試應(yīng)在該測試點以與步驟 2) 相同的放電次數(shù)，按照規(guī)定的測試水平進行。如果 EUT 的性能未超出規(guī)定的性能要求，則測試結(jié)果在產(chǎn)品委員會設(shè)定的可接受性能閾值范 圍內(nèi)。如果 EUT 的性能超出規(guī)定的性能要求，則測試結(jié)果超出產(chǎn)品委員會設(shè)定的可接受性能閾值范圍。
附件I（規(guī)范性） 針對特定類型設(shè)備的附加或進一步試驗布置【新增】
測試裝置應(yīng)由一個非導(dǎo)電支撐物組成，其高度為（0.8 ± 0.08）m，置于 RGP 上。EUT 電纜應(yīng)通 過一個（0.5 ± 0.05）毫米的絕緣支撐物與 RGP 隔離。裝置的其他方面應(yīng)符合 7.3.2 和 7.3.5 中的 規(guī)定（如適用）。對于所有可觸及的外殼部件，VCP 的位置應(yīng)符合 8.3.3.3 中的規(guī)定。對于小型壁掛式受試設(shè)備（即小于 0.5×0.5 米），垂直極化波的中心點應(yīng)位于受試設(shè)備每側(cè)的中 心位置。
安裝在不含導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的墻壁上或嵌入墻壁內(nèi)的壁掛式設(shè)備
安裝在含導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的墻壁上,金屬 的尺寸在各個方向上應(yīng)至少超出設(shè)備待測物 0.5 m。
附錄 J（資料性）可穿戴設(shè)備【新增】
可穿戴設(shè)備所承受的靜電放電（ESD）應(yīng)力與固定設(shè)備不同，因為可穿戴設(shè)備是通過人體充電的。例如，可穿戴設(shè)備會被佩戴在人的頭部、手臂、手腕和腰部。
可穿戴設(shè)備應(yīng)按照臺式設(shè)備的要求進行測試。
可穿戴設(shè)備上的靜電放電（ESD）應(yīng)力可能由以下五種情況引起：
·用帶電的手拿起可穿戴設(shè)備；
·由未佩戴該設(shè)備的人用手取下已充電的可穿戴設(shè)備；靜電放電源自佩戴可穿戴設(shè)備的人手；
·用自己的一只手取下充電的可穿戴設(shè)備并將其放在桌上；
·由可穿戴設(shè)備直接對其他物體產(chǎn)生的靜電放電。
對于可穿戴設(shè)備的附加實驗靜電放電 （ESD）測試，建議的存儲電容和放電電阻分別為 200pF和 50 Ω，以接觸放電模式對可穿戴設(shè) 備的導(dǎo)電部分施加靜電放電；以重現(xiàn)腰部佩戴的可穿戴設(shè)備所能產(chǎn)生的最嚴(yán)重放電電流狀況。
附錄 K （資料性） 試驗結(jié)果評估【新增】
2025版將正文中“試驗結(jié)果的評估”由正文單獨增加一個附錄K進行描述。
試驗結(jié)果應(yīng)根據(jù)受試設(shè)備（EUT）在試驗中的功能下降或降低程度進行分類（性能標(biāo)準(zhǔn)），該下降或 降低程度相對于產(chǎn)品委員會所規(guī)定的允許下降程度而言。否則，允許的下降程度由產(chǎn)品的制造 商或購買者指定。
A） 通常被認(rèn)為屬于“正常”運行，即產(chǎn)品按照產(chǎn)品文檔中的規(guī)格和 公差運行。靜電放電（ESD）通常會導(dǎo)致性能下降或影響 EUT 的正常運行。因此，在評估測試 結(jié)果時，產(chǎn)品委員會可以選擇性能標(biāo)準(zhǔn) B。
B） 通常被認(rèn)可，即在靜電放電（ESD）測試期間，允許設(shè)備的運行出現(xiàn)一定程度的性 能下降（即超出規(guī)格），但前提是設(shè)備在測試后能夠自行恢復(fù)到正常運行狀態(tài)。產(chǎn)品委員會應(yīng) 考慮用戶在正常使用設(shè)備時的合理預(yù)期，來確定可接受的性能下降閾值。例如，在靜電放電測 試期間，如果設(shè)備變得無法使用或完全喪失功能，通常都是不可接受的。以下是一些例子：? 顯示屏：顯示屏通常采用非導(dǎo)電材料封裝，因此需要進行空氣放電測試。靜電放電空氣放電 測試可能會導(dǎo)致亮度顯著降低或出現(xiàn)抖動。閾值可以通過允許顯示屏亮度降低到一定程度且 抖動在可接受范圍內(nèi)，同時仍能清晰識別顯示的重要信息來確定。“黑屏”可能超出可接受 的閾值。? 數(shù)字電路：靜電放電（ESD）測試可能會導(dǎo)致同步電路中斷。可以設(shè)定一個閾值，即在靜電 放電事件發(fā)生后“正常”數(shù)據(jù)傳輸?shù)靡曰謴?fù)的情況下，受影響的數(shù)據(jù)傳輸?shù)腻e誤率。
C ）通常被認(rèn)可為：在操作中斷時不會損壞設(shè)備，必要時允許操作人員干預(yù)以恢復(fù)運行。該性能標(biāo)準(zhǔn)通常不適用于評估 ESD 測試結(jié)果。
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